True|position / Ruby|plate

True|position/Ruby|plate

Medición con precisión según la norma VDI 2630 en todas las posiciones  

La tecnología True|position y Easy|calib, disponible exclusivamente en los sistemas de TC de alto rendimiento Phoenix V|tome|x de Waygate Technologies, amplía las posiciones de medición con la precisión concreta a todas las posiciones que se pueden verificar con el innovador fantoma de calibración patentado Ruby|plate.



La metrología 3D con TC comienza aquí

La metrología 3D con tomografía computarizada comienza aquí 

Gracias a este fantoma de calibración Ruby|plate, con una incertidumbre de calibración de menos de 1 micrómetro incluso para una longitud máxima de sonda de 130 mm, no solo se puede especificar una alta precisión de medición de hasta SD ≤ (3,8 + L/100 mm) µm para las dos posiciones conforme a la directriz VDI 2630-1.3, sino que también se puede alcanzar una excepcional precisión de SD ≤ (5,5 + L/50 mm) µm para todas las posiciones restantes distintas de las posiciones VDI con el escáner de TC V|tome|x M premium. Además, si se aplica el Easy|calib, totalmente automatizado, se puede cumplir la especificación VDI SD ≤ (3,8 + L/100 mm) µm en cualquier posición con tan solo unos minutos de calibración. 

Gracias al alto grado de automatización de las rutinas, al nuevo fantoma de calibración Ruby|plate y a la compensación de las incertidumbres de las posiciones mecánicas restantes obtenida con True|positions, así como a la corrección de los efectos térmicos con sensores de temperatura, estas innovaciones patentadas llevan los flujos de trabajo y la precisión de la metrología con TC a un nuevo nivel de rendimiento. 

Características de True|position / Ruby|plate
El mayor fantasma de calibración Ruby|plate 

Para medir objetos grandes y complejos, Waygate Technologies también ofrece el fantasma de calibración Ruby|plate 240 para su Phoenix V|tome|x C450, que permite a los usuarios realizar metrología de precisión conforme a VDI 2630 con una especificación de SD ≤ (15 ± L/50 mm) µm 

Rendimiento de máxima precisión

Escáner microCT Phoenix V|tome|x M: 

SD ≤ (3,8 ± L/100 mm) µm conforme a la directriz VDI 2630

SD ≤ (5,5 ± L/50 mm) µm para todas las demás posiciones al margen de las posiciones VDI

SD ≤ (3,8 ± L/100 mm) µm en cualquier posición cuando se usa la herramienta totalmente automatizada Easy|calib 

Escáner de TC con minienfoque Phoenix V|tome|x C:

 SD ≤ (15 ± L/50 mm) µm en ambas posiciones VDI 2630 y, tras aplicar Easy|calib, en cualquier posición

Escáner de gabinete grande Phoenix V|tome|x L300 y L450

SD ≤ (6,8 ± L/100 mm) µm con tubo de rayos X con microenfoque en ambas posiciones VDI 2630 y, tras aplicar Easy|calib, en cualquier posición

3 veces más rápido

Especificaciones VDI 2630 1.3 tres veces más rápidas para un rendimiento de verificación superior: gracias a la considerable simplificación de la verificación con el nuevo fantasma patentado Ruby|plate, el proceso se ha podido reducir de 18 escaneados a 6 necesarias en comparación con el fantasma Ball|bar convencional

Más preciso

Una configuración de TC más rápida y sencilla para las tareas de metrología de precisión realizadas con la exactitud especificada en varias posiciones

Especificaciones técnicas

Preguntas frecuentes

Preguntas frecuentes
¿Por qué la calibración del sistema con la aplicación Ruby|plate es mucho más rápida que otras rutinas de verificación?

El fantasma Ruby|plate patentado permite realizar una verificación automatizada 3 veces más rápida de la precisión de medición (SD) especificada según VDI 2630 1.3 (en comparación con la tecnología actual): todas las direcciones y longitudes requeridas por la directriz quedan cubiertas por su alineación de esferas de rubí sobre placa cerámica en un solo escaneado.

El estándar VDI 2630 define solo 2 posiciones verificadas: ¿cómo puede ofrecer metrología de TC con precisión especificada para cualquier posición alcanzable dentro de su gabinete de TC?

Las innovadoras funciones de metrología de Waygate Technologies, como True|position o Easy|calib, permiten a los usuarios determinar rápida y fácilmente la geometría de los sistemas en cualquier punto, garantizando la capacidad de corregir automáticamente cualquier desviación y mantener la conformidad con el estándar VDI 2630. Para nuestro escáner de TC de metrología premium Phoenix V|tome|x M, aplicar esas características significa alcanzar SD ≤ (3,8 ± L/100 mm) μm no solo en ambas posiciones VDI, sino en cualquier posición. Para nuestros clientes, la combinación de máxima flexibilidad, fiabilidad y precisión supone una gran ventaja.

¿Cuánto tiempo se tarda en realizar una recalibración del sistema?

Al escanear el fantasma Ruby|plate y aplicar nuestros procesos de validación totalmente automatizados, nuestros propios clientes pueden especificar las incertidumbres de medición de sus sistemas en menos de 10 minutos.

¿Depende la precisión de la medición del tamaño del sistema?

No tanto como cabría esperar: incluso nuestros sistemas Phoenix V|tome|x L300 y V|tome|x L450 CT, basados en granito y con gabinete climatizado, alcanzan con sus tubos de rayos X de microenfoque una notable precisión de SD ≤ (6,8 ± L/100 mm) µm en ambas posiciones VDI 2630 y, tras aplicar Easy|calib, en cualquier posición.

¿Disponen también de soluciones de metrología fiables para muestras más grandes y de mayor absorción?

Sí, nuestro fantasma de calibración Ruby|plate 240 es el más grande de su clase en el mercado, y permite a los usuarios de nuestro escáner de TC Phoenix V|tome|x C450 CT con minienfoque de 450 kV escanear, por ejemplo, fundiciones de metales ligeros con una especificación de precisión de SD ≤ (15 ± L/50 mm) µm en ambas posiciones VDI 2630 y, tras aplicar Easy|calib, en cualquier posición.

¿Es posible actualizar mi escáner de TC Phoenix V|tome|x con capacidad de metrología 2.0?

Sí, al realizar el pedido de su sistema, no es necesario que solicite aún la configuración Metrology|edition. Todos los sistemas Phoenix V|tome|x M, C y L actuales y la mayoría de los fabricados en los últimos años pueden actualizarse posteriormente para obtener un mayor rendimiento metrológico.

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