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Le scanner bi-tube de micro/nanotomographie industrielle le plus flexible au monde

Découvrez l'avenir des essais non destructifs
avec le nouveau Phoenix V|tome|x M Neo.

Notre solution phare de tomographie assistée par ordinateur établit une nouvelle norme de flexibilité, de rapidité et de qualité de détection, et s'impose comme le meilleur choix pour un large éventail d'applications au sein de différents secteurs.



Experience the wide range of benefits the Phoenix V|tome|x M Neo has to offer

industry icon

Gamme de dimensions étendue pour les échantillons plus lourds

Image Card Batteries

Chargement et déchargement plus rapides et faciles

Image Card Batteries

Maintenance simplifiée pour une plus grande productivité et des temps d'arrêt réduits

Image Card Batteries

Améliorez la flexibilité, la rapidité et la qualité des détections



Fonctionnalités
Des fonctionnalités avancées pour une imagerie et une analyse de plus grande qualité

• Tubes de précision microscopique et nanoscopique hautement performants
• Configuration bi-tube en orientation horizontale pour une meilleure acquisition d'images
• Détecteurs Dynamic 41 exclusifs
• Technologie High Flux Target pour une vitesse de balayage améliorée

Advanced technology for superior image quality
Une solution facile à entretenir
  • Porte facile d'accès pour la maintenance
  • Manipulateur repensé pour une plus grande efficacité
Neo_High_Serviceability
Un design accessible
  • Deux grandes portes coulissantes permettent un fonctionnement facile
  • Chargement flexible à l'aide d'une grue interne ou externe
  • Panneau de commande hautement polyvalent
Omni with Human
Une zone de balayage étendue pour les pièces plus grandes et plus lourdes
  • Zone de balayage étendue pour le contrôle des pièces petites comme grandes
  • Distance foyer-détecteur à haute variabilité

 

Expanded scanning area for small and large parts
Une automatisation axée sur l'efficacité
  • Workflows de reconnaissance automatique des défauts (ADR) avec le logiciel X|approver
  • Équipé du logiciel Datos|x le plus récent qui permet de contrôler entièrement l'acquisition de données et de reconstituer encore plus rapidement les données
Laptop_Neo


 

 

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Applications

Conçu pour répondre aux défis de votre secteur

Le Phoenix V|tome|x M Neo est un système flexible qui s'adapte à un large éventail d'applications de métrologie 3D, de recherche et d'évaluation dans des environnements de laboratoire. En outre, grâce à ses capacités d'automatisation, il se prête parfaitement à la réalisation de tests précis en milieu de production et fournit des résultats fiables pour les applications industrielles.

Dans le secteur aérospatial, le Phoenix V|tome|x M Neo se montre aussi polyvalent qu'indispensable en permettant diverses applications. Il excelle dans les tâches d'inspection et d'évaluation des composants critiques comme les pièces de voilure, les pièces issues de la fabrication additive utilisées comme pièces de rechange ou pour la maintenance, la technologie de pointe de fibre de carbone, ainsi que les composants électroniques complexes pour les satellites.

Le Phoenix V|tome|x M Neo est une solution performante pour les tests de batteries puisqu'elle offre des mesures précises des anodes et cathodes, ainsi qu'une analyse des défaillances pour différentes configurations de cellules de batterie (prismatiques, « Pouch », pliées et empilées par exemple). Ses capacités avancées garantissent la fiabilité et l'efficacité des technologies de batterie, contribuant ainsi à l'amélioration de leurs performances pour diverses applications.

Que ce soit pour évaluer des microstructures, examiner des joints soudés ou inspecter des circuits, le Phoenix V|tome|x M Neo fournit des données utiles qui permettent d'améliorer la fiabilité des produits, d'optimiser les processus de fabrication et d'accélérer les efforts de recherche et de développement dans le secteur de l'électronique.



Un riche héritage

Le résultat d'une longue tradition

Le Phoenix V|tome|x M Neo est une solution de tomographie industrielle nouvelle génération qui tire parti du succès de la plateforme Phoenix V|tome|x avec plus d'un millier d'installations dans le monde. Il offre des avancées remarquables, dont des images améliorées, une zone de balayage étendue pour les échantillons plus grands et plus lourds, une distance foyer-détecteur variable et un nouveau design d'enceinte pour encore plus de flexibilité et d'accessibilité.

Imagerie et analyse avancées pour des performances améliorées

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Technologies et composants innovants
Configuration Dual|tube microfoyer/nanofoyer

Tube à rayons X microfoyer de 300 kV/500 W optimisé pour la tomographie par ordinateur. Combinaison possible avec un tube à rayons X nanofoyer haute puissance de 180 kV/20 W pour le balayage haute précision d'échantillons de petite taille à faible absorption

Long-life|filament

Durée de vie du filament jusqu'à 10 fois plus longue qui garantit une stabilité à long terme et optimise l'efficacité du système avec long-life|filament (en option)

Technologie Scatter|correct

La technologie brevetée exclusive de Waygate Technologies Scatter|correct vous permet de réaliser des contrôles tomographiques très précis sur des échantillons à haute diffusion, avec le niveau de qualité supérieur de la tomographie à faisceau en éventail et une cadence jusqu'à cent fois plus élevée que la tomographie à faisceau conique

Détecteur numérique Dynamic 41

Double résolution tomographique capturée à vitesse égale, ou double cadence au même niveau de qualité qu'un détecteur DXR à pas de 200 µm. Comparée aux détecteurs 16 bits, la technologie optimisée 14 bits offre la meilleure efficacité et une plage dynamique de 10000:1, et permet ainsi de gagner du temps et de générer moins de bruit dans l'image

Helix|CT

Une qualité d'image supérieure qui permet d'augmenter efficacement la probabilité de détection (POD) en toute simplicité

Offset|CT

Prise en charge de pièces encore plus grandes avec un volume de balayage jusqu'à 70 % plus important

Orbit|scan

Définition d'un axe de rotation virtuel pour un ajustement plus facile des balayages, ainsi que des contrôles tomographiques plus flexibles des régions d'intérêt

Multi|bhc

L'outil Multi|bhc corrige les artefacts en stries, qui se présentent généralement par des bandes de stries sombres positionnées entre des zones denses dans les échantillons composés de plusieurs matériaux

ASC|filter

Notre filtre de correction adaptative Scatter|correct offre une qualité d'image sans pareille en réduisant significativement les artefacts causés par l'échelle des valeurs de gris réduite dans les ensembles de données tomographiques d'échantillons à haute absorption

High-flux|target

Une efficacité supérieure grâce à l'obtention d'images microCT plus rapide ou une résolution multipliée par deux avec une plus grande puissance sur un point focal plus petit

Sample|changer

Ce support facile à retirer permet la permutation automatique des échantillons

Filter|changer

Associé au Sample|changer, le Filter|changer en option permet de réaliser des balayages CT mixtes par lots

Logiciel Phoenix Datos|x CT

Automatisation intégrale de l'acquisition de données, du traitement des volumes et des évaluations, en toute simplicité

Services de contrôle par tomographie informatisée et de métrologie

Services internationaux de contrôle industriel par radiographie 2D et tomographie 3D assistée par ordinateur par Waygate Technologies



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