초음파 시험

일반적으로 수동 검사에 사용되는 수직 빔 단일 요소 변환기는 기하학적 특성이 일정하고 접촉면이 상대적으로 매끄러운 부품을 스캔하는 데 적합합니다. 결함이나 표면에 평행하는 후벽을 식별해야 하거나 표면에 수직인 빔을 검출해야 하는 평면 또는 곡면도 해당됩니다. 재료의 두꺼운 단면을 침투해야 하는 경우 표면 부근 분해능이 높은 이 프로브를 접촉 매질층(일반적으로 젤, 오일 또는 페이스트 등)과 함께 사용할 수 있습니다.

수직 빔 이중 요소(TR) 변환기는 표면과 평행한 결함이나 후벽(backwall) 또는 표면과 수직 방향인 빔으로 검출할 수 있는 결함이나 후벽(backwall)을 찾기 위해 재료의 박편을 수동으로 스캔하는 데 가장 적합합니다. 이 프로브는 표면 부근 분해능이 뛰어나고 산란으로 인한 노이즈가 적어 혼선 장벽(crosstalk barrier)으로 구분되는 요소를 송수신할 수 있습니다. 곡선형의 거친 부품과 표면에서 윤곽선을 따라 결합될 수 있으며 접촉 매질층(일반적으로 젤, 오일 또는 페이스트 등)이 필요합니다.

유럽 지역 고객: 프로브 모델이 측면 장착 Lemo 00 커넥터, 측면 장착 Microdot SEB..KF 유형을 사용합니다.

북미 지역 고객: 프로브 모델이 고정형 BNC 케이블(ADP) 또는 측면 장착 MMD(FDU)를 사용합니다.

경사각 빔 프로브는 용접과 같은 경사진 결함이 있는 부품에 적합하며 때때로 기계식 또는 자동화 시험에도 사용됩니다. 이 변환기는 모드 전환 방식으로 횡파를 발생시키는 대부분의 표준 변환기와 달리 굴절력을 사용하여 사전 설정된 각도로 횡파와 종파를 전송합니다. 필수 또는 교체 가능한 웨지(wedges)에 요소가 장착되므로 접촉 매질층(일반적으로 젤, 오일 또는 페이스트 등)이 필요합니다.

경사각 빔 프로브는 단일 및 이중 요소 유형이 있으며 여러 크기로 제공됩니다.