전자 장치 비파괴(NDT) X-선 검사

Phoenix Microme|x Neo와 Nanome|x Neo AXI 시스템은 고해상도 2D X-선 검사와 3D 컴퓨터 단층 촬영(CT) 스캔 기능을 단일 시스템으로 제공하며 공업, 자동차, 항공 및 가전 제품 산업에서 반도체, PCB, 리튬이온 배터리와 같은 전자 구성품을 비파괴 방식으로 시험(NDT)할 수 있습니다.

혁신적인 엔지니어링 성능과 탁월한 포지셔닝 정확도가 특징인 Phoenix Microme|x Neo와 Nanome|x Neo는 공정 및 품질 관리, 장애 분석, R&D 분야의 고도로 자동화된 산업용 X-선 전자 장치 검사 용도로 적합합니다.

Phoenix X|act는 자동 테스트 주기를 프로그래밍하는 강력한 대형 영상 처리 소프트웨어입니다. 완전 자동 방식의 X-선 검사뿐만 아니라 수동 검사까지 간편하게 수행할 수 있습니다.

수동 X-선 검사의 경우 Waygate Technologies의 Flash!™ 영상 최적화 기술(옵션)로 더 빠르고 정확하게 결함을 검출할 수 있습니다.

Phoenix X|aminer 사용이 간편한 기본형 마이크로포커스 X-선 검사(AXI) 시스템으로, 전자식 어셈블리, 구성 요소, PCBA의 고해상도 검사를 위한 특별한 요구를 충족시킬 수 있는 강력한 성능을 제공합니다.

이 시스템은 CMOS 평판 패널 검출기와 컴퓨터 단층 촬영(CT)의 새로운 조합을 통해 뛰어난 신호 대 노이즈 비율, 선명도, 라이프 이미징(life-imaging) 기능을 제공합니다. 강력한 2D용 Phoenix X|act 기반 소프트웨어와 CT용 Phoenix Datos|x 기반 소프트웨어 지원으로 사용이 간편하며 수동 및 자동 검사가 모두 가능합니다.

Phoenix Microme|x 및 Nanome|x 자동 X-선 검사 시스템 사용자라면 PlanarCT 모듈을 사용하여 복잡한 인쇄 회로 기판 어셈블리의 납땜 조인트와 패키지를 보다 정확하게 검사할 수 있습니다.

PlanarCT 스캔 작업의 경우 회전 스테이지에 샘플을 고정하기 위한 준비 단계 없이 쉽게 조절할 수 있습니다. 조작 테이블에만 보드가 배치되며 테이블이 회전하는 동안 필요한 부분을 스캔합니다. 재생된 PlanarCT 슬라이스 또는 멀티슬라이스 보기로 다른 보드 부분의 구조와 겹치는 부분 없이 단일 평면 또는 필요한 전체 패키지에 대한 정확한 검사 결과를 얻을 수 있습니다.  함께 제공되는 3D|viewer로 전체 평가 작업을 처리할 수도 있습니다.