위상 배열 프로브
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Mentor UT RotoArray phased array ultrasonic inspection device

 

Krautkrämer 초음파 프로브 및 변환기

Waygate Technologies는 다양한 용도로 믿고 사용할 수 있는 여러 가지 위상 배열 프로브와 변환기를 제공합니다. 고정 각도 및 초점 옵션 지원으로 검사를 여러 번 수행하지 않아도 되며 넓은 면적을 스캔하도록 설계된 수침 또는 지연선 프로브를 사용하여 설정 및 스캔 시간을 줄일 수 있습니다. 프로브와 Mentor UT를 함께 사용하여 최적의 성능을 얻을 수 있으며 다른 기기와도 함께 사용할 수 있습니다. 대화 기능이 있는 변환기의 경우 Mentor UT와 함께 사용하면 물리적 연결 상태를 인식하여 변환기 정보를 기기로 자동 다운로드할 수 있습니다.

위상 배열 프로브 유형
  • 범용 프로브
  • 용접 검사 프로브
  • 부식 프로브
  • 복합재 검사 프로브
  • 수침 프로브
  • 박판 검사 프로브
  • 볼트 검사 프로브
산업 용도
  • 전력 산업: 일반 용접 검사, 오스테나이트 용접, 압력 베슬 및 배관, 터빈 날개 및 로터
  • 석유 가스 산업: 파이프라인 원주 용접, 탱크, 일반 용접 검사
  • 항공 우주 산업: 용접 검사, 착륙 장치, 복합재 박리 및 분리
  • 자동차 산업: 차축, 일반 축, 방추, 브레이크 디스크, 휠
  • 일반 용도: 용접, 주조품, 단조품, 플레이트, 막대, 튜브형 제품, 인라인 두께 측정, 교량 및 구조물

 

Waygate Technologies(이전 GE Inspection Technologies)는 NDT 솔루션 분야의 글로벌 리더로, 품질, 안전, 생산성을 보장하는 부문에서 125년이 넘는 경험과 역사를 보유하고 있습니다.



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초음파 프로브: 경쟁 분석

Waygate Technologies는 NDT 분야의 세계적인 리더로서 기업의 명성은 결국 그 성과로 인정 받게 된다고 믿고 있습니다.

현장에서 프로브를 사용하여 가장 효율적이고 신뢰할 수 있는 데이터를 얻기 위해서는 결코 우연을 바랄 수 없습니다. 이 경쟁 분석은 Waygate Technologies의 세 가지 초음파 프로브를 소개하면서 다른 경쟁업체의 제품들과 그 성능을 비교합니다. 분석 결과를 보시면 최선의 선택을 했다는 확신이 들 것입니다.



Waygate Technologies의 위상 배열 프로브 모두 보기
범용 프로브

Waygate Technologies의 일반 위상 배열 프로브 제품은 다양한 용도에서 믿고 사용할 수 있으며 단면 스캔 또는 선형 스캔을 위한 3가지 다른 유형의 커넥터를 지원합니다. 웨지, 지연선 또는 마모 캡과 함께 사용할 수 있습니다.

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용접 검사 프로브

소형 용접 프로브, 내장형 웨지 프로브 등 다양한 용접 검사 프로브를 제공합니다.소형 프로브는 접촉면이 적어 위상 배열 기능이 있는 표준 싱글 엘리먼트 MSWS 프로브와 마찬가지로 표준 싱글 엘리먼트 MSWS 웨지에 적합합니다.Waygate Technologies의 내장형 웨지 프로브는 종래의 프로브처럼 다이 캐스트 하우징이 인체 공학적으로 설계된 견고한 제품입니다. 종래의 검사 방식에서 위상 배열 검사 방식으로 쉽게 전환할 수 있어 기존 기기와 프로브 홀더를 재사용할 수 있습니다.

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부식 프로브

Waygate Technologies의 부식 프로브는 탁월한 표면 하 해상도를 제공합니다. 강철의 경우 최적의 시험 범위는 1.9mm(0.075“) ∼ 25.4mm(1“)입니다. 조절식 웨어 바(wear bar)가 함께 제공되며 세 가지 다른 유형의 커넥터를 지원합니다.

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복합재 검사 프로브

Waygate Technologies는 RotoArray 등 신뢰할 수 있는 복합재 검사 프로브를 다양하게 제공합니다. 이러한 프로브는 오버헤드, 워터 웨지 프로브, 수침 프로브, 박판 검사 프로브, 볼트 검사 프로브 등 어떤 용도에서도 뛰어난 음향 성능을 제공합니다.

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수침 프로브

수침 프로브는 물 속에서 가장 높은 효율성을 나타낼 수 있는 음향 성능을 보유하고 있습니다. 방수 제품이며 고정물을 장착하여 넓은 면적을 빠르게 검사할 수 있습니다. 또한 벽면 근접 설계로 케이스 가장자리에 가깝게(~1mm) 접근할 수 있습니다.

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박판 프로브

박판 검사 프로브는 표면 하 및 작은 결함 검사에 필요한 고주파, 고감쇠 배열을 지원합니다. 견고한 방수 설계와 함께 수용성/지연 재료에 맞는 음향 성능을 제공합니다.

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볼트 검사 프로브

볼트 검사 프로브는 정확한 결과를 얻을 수 있는 우수한 제품으로 나사 볼트의 결함을 검출할 수 있는 높은 PoD를 지원합니다. 이는 건설 과정에서의 문제와 잠재적인 책임 소지를 줄이는 데 중요한 성능입니다. 보호 멤브레인이 거친 표면과의 지속적인 결합을 가능하게 해주며 여러 가지 커넥터 유형을 지원합니다.

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경쟁제품 벤치마킹의 중요성, 제조 CTQ에 대해 알아보고 Waygate Technologies의 MSW-QC Style Angle Beam(Gamma Series), Type F Fingertip Contact Probe(Alpha Series), RHP Straight Beam(Gamma Series)과 대표적인 경쟁업체 제품을 비교하는 방법을 알아보십시오.



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