NDT for Laboratories and Academia
Technologies made for your research challenges
Inspection and NDT solutions for Laboratories and Academia
Since the detection of X-rays 125 years ago, Waygate Technologies has been on the cutting edge of nondestructive testing solutions for laboratories and academic study. We’ve pioneered technologies including nanofocus X-ray tubes, micro- and nano-computed tomography, and ultrasonic inspection. Leading scientists around the globe, in fields from materials science to geology to archaeology, rely on our superior imaging capabilities to make the invisible visible.
For more than 20 years, we have also been supporting the battery industry, which develops and manufactures batteries that are becoming increasingly important for our daily lives. An important role is played by academia and laboratories researching the optimization of old battery types and the development of new ones. With our hardware, software and service solutions, we support them in working on the next technological breakthrough.
Navigating complexity: advanced battery technology for your research challenges
Universities and labs often face challenges when testing new battery technologies
Advanced battery technology requires sophisticated testing methods
Battery life cycle assessment involves evaluating environmental impact, energy efficiency, and recyclability
Limited budgets can hinder universities from acquiring advanced equipment or experienced personnel
How Waygate Technologies can add value
CT scans provide non-destructive, high-resolution 3D images of battery internals, revealing minute details without disassembly
CT scans analyze internal structures under stress, revealing how materials and designs withstand mechanical and thermal cycling for long-term durability
CT scans identify micro and nano-scale defects early in development, enabling design optimization for improved performance and safety
CT scans verify electrode alignment and provide data for structural optimization, enhancing battery performance and efficiency
CT scans assess electrolyte distribution uniformity, aiding in filling process optimization and performance enhancement
CT scans analyze batteries throughout their lifecycle, revealing degradation mechanisms and correlating them with performance data
CT scans analyze failed batteries to determine root causes, improving the reliability and safety of future designs
CT scans enable rapid prototyping and iterative development by providing immediate feedback on internal structures
Our Hardware Offerings
Our flagship computed tomography solution Phoenix V|tome|x M Neo sets a new standard in flexibility, speed, and detection quality, making it the ultimate solution for battery testing, offering precise anode and cathode measurements, as well as failure analysis for various battery cell configurations.
Designed for 3D metrology and analysis with scatter|correct technology to automatically remove scatter artifacts for higher image quality. High-quality 3D micro- and nanoCT results and outstanding metrology precision with 300 kV penetration power enable improved safety and throughput.
A powerful, compact 450 kV precision CT scanner specially designed for large sample 3D computed tomography. Its production-oriented, low-maintenance design offers speed and flexibility allowing for safe production inspection and metrology with a VDI/VDE 2630-1.3 conform precision spezification of SD ≤ (15 ± L/50 mm) µm.
Phoenix Power|Scan HE
High Energy CT Inspection starts here
The combination of penetration power and our advanced CT features such as Scatter|correct technology make this CT system predestined to scan extremely large, heavy and high absorbing complex parts and assemblies with unmatched speed, precision, and ease of use — enabling faster, more precise inspections.
The Phoenix Microme|x Neo and Nanome|x Neo provide high-resolution 2D X-ray technology, PlanarCT and 3D computed tomography (CT) scanning in one system. The systems are ideally suited for efficient non-destructive testing (NDT) of electronic components such as semiconductors, PCBAs, lithium-ion batteries and more.
Our Software Offerings
Software for automating your defect analysis workflow
AI-based on-premises ADR software (Automated Defect Recognition) with specific teachable algorithms to evaluate the quality of components for a wide range of parts and leverage automated detection of microstructural defects from CT images
Our Service Offerings
Our Customer Solutions Center experts offer a broad range of services ranging from in-depth consultations and feasibility studies to evaluate the best inspection solutions for individual inspection tasks, highly customizable testing solutions covering defect analysis or 3D measurement or on-demand or pay-per-scan inspection services with latest Waygate Technologies NDT equipment.
Phần mềm Datos|x được sử dụng để thu thập và dựng lại khối dữ liệu CT (chụp cắt lớp vi tính) từ các hệ thống 3D. X|approver là phần mềm ADR (Tự động nhận diện lỗi) sử dụng công nghệ máy học, hoạt động trên máy chủ tại chỗ và chạy bằng thuật toán chuyên biệt có thể huấn luyện để đánh giá chất lượng pin cùng các thành phần khác. Phần mềm của Waygate Technologies bao gồm trọn bộ tính năng quản lý quy trình làm việc với giao diện dễ sử dụng, đồng thời tích hợp thư viện ADR toàn diện chạy ngầm trong quy trình sản xuất để tự động ra quyết định. Các chức năng báo cáo cho phép bạn nắm bắt nhanh những xu hướng tiêu cực tiềm ẩn trong quy trình sản xuất. Chuyên viên vận hành được ủy quyền có thể gán tham số cho các mẫu đã quét (ví dụ: nhằm phát hiện chính xác lỗi phù pin). Qua đó, thuật toán sẽ hoạt động ngày càng chính xác hơn. Khi kết quả phân tích lỗi có độ nhất quán cao, những chuyên viên vận hành giỏi có thể giảm khối lượng công việc, từ đó giúp công ty dần bớt phụ thuộc vào chuyên viên vận hành. Ngoài ra, phần mềm của Waygate Technologies có thể được triển khai trên đám mây để thực hiện thêm phân tích ADR cho pin và các phần khác.
Pin có cấu trúc rất phức tạp và không có tiêu chuẩn chung giữa các nhà cung cấp. Sau khi lắp ráp, pin sẽ được niêm phong và đóng kín. Không ai biết cấu trúc bên trong có thực sự toàn vẹn hay không. Để tránh phải thải bỏ sản phẩm lỗi, chúng ta cần xem xét bên trong bằng phương thức không phá hủy, trong đó cách hiệu quả nhất là sử dụng công nghệ kiểm tra bằng ảnh chụp CT. Dòng sản phẩm Phoenix của chúng tôi sẽ đem lại kết quả đáng tin cậy cho các công ty sản xuất phụ tùng gốc và nhà cung cấp, giúp họ tránh phải thu hồi và thải bỏ tốn kém.
Khi sử dụng công nghệ CT 3D, chúng ta có thể nhìn thấy bên trong pin sau khi lắp ráp, kiểm tra chi tiết hơn và đánh giá toàn bộ cell pin một cách chính xác hơn. Đó là lý do công nghệ CT trở thành giải pháp hiệu quả nhất để phát hiện nguyên nhân khiến pin hỏng hoặc kết quả kiểm thử không đạt. Nhờ vậy, giải pháp này giúp giảm số lần kiểm thử không đạt, tránh phải thải bỏ sản phẩm, qua đó giảm chi phí và tác động đến môi trường. Tuy nhiên, mục tiêu chính của khách hàng là tối ưu hóa hiệu quả chi phí. Mỗi cell pin có kết quả kiểm thử không đạt sẽ làm giảm hiệu quả và tăng chi phí. Công nghệ CT là công cụ phổ thông để kiểm soát chất lượng pin.
Ví dụ: ắc-quy dùng cho xe điện hoặc bộ tích điện được làm từ nhiều mô-đun, mỗi mô-đun lại gồm nhiều cell pin. Khi kiểm tra pin ở cấp độ từng cell, đội ngũ kỹ sư sẽ kiểm tra cấu trúc cơ học để xem có tạp chất nào không, các điện cực có đồng nhất không, đầu nối bên trong (mối hàn) và cách sắp xếp các điện cực trong cell pin như thế nào. Công đoạn kiểm tra cấu trúc hình học của điện cực bao gồm bước kiểm tra khoảng cách giữa các điện cực, kích thước và hướng của điện cực so với nhau, khoảng cách từ điện cực đến màng ngăn và góc điện cực. Hệ thống chụp X quang 2D cũng có thể kiểm tra được những yếu tố trên, nhưng chuyên viên kiểm tra sẽ không nhìn thấy tổng thể, vì thường chỉ một hoặc hai loại lỗi nghiêm trọng có thể hiển thị rõ giữa các chi tiết chồng lấn của ảnh chụp X quang. Công nghệ chụp cắt lớp vi tính (CT) công nghiệp cung cấp hình ảnh hoàn chỉnh về các bộ phận quan trọng trong cell pin và vị trí của những bộ phận đó trong vỏ pin. Từ đó, chuyên viên kiểm tra có thể phát hiện ra bất kỳ lỗi nào gây ra sai lệch trong ảnh chụp X quang.
Các viện nghiên cứu pin, công ty sản xuất phụ tùng gốc, cũng như nhà cung cấp trong ngành ô tô và thiết bị điện tử sử dụng công nghệ CT để đảm bảo chất lượng trong quá trình phát triển, sản xuất và phân tích sự cố. Khi pin trong ô tô hoặc thiết bị điện tử bị hỏng và được nơi sử dụng trả về, kỹ thuật viên sẽ tiến hành kiểm thử bằng cách chụp CT. Pin có thể hỏng nếu bị tháo ra. Vì vậy, kỹ thuật viên cần kiểm tra trước theo phương thức không phá hủy. Kỹ thuật viên có thể kiểm tra bằng cách chụp CT nếu muốn biết xem pin có lỗi hay không trước khi tháo ra. Nếu sau đó kỹ thuật viên cần tháo mô-đun nào đó thì hình ảnh CT sẽ hiển thị chính xác đến từng micromet vị trí lỗi và vị trí đặt công cụ sao cho an toàn để kiểm tra chi tiết theo phương thức phá hủy.
Để gia tăng hiệu quả hơn nữa, Waygate Technologies hợp tác với Thermo Fisher. Nếu như công nghệ CT có khả năng tìm vị trí vấn đề bất thường trong pin và hàng mẫu khác qua hình ảnh 3D (chính xác đến vài micromet), thì Thermo Fisher giúp tiếp cận vấn đề bất thường bằng tia laser để kỹ thuật viên có thể cắt vật cần kiểm tra với độ chính xác tính bằng micromet, cũng như đánh bóng vật thể bằng plasma và phân tích ở cấp độ electron dưới kính hiển vi. Khi kết hợp hai giải pháp này, hiệu quả đạt được là khả năng phát hiện và xác định vị trí lỗi qua hình ảnh 3D theo phương thức không phá hủy, sau đó tiếp cận lỗi theo phương thức phá hủy bằng tia laser tại vị trí lỗi mà ảnh chụp CT đã xác định, cuối cùng là phân tích lỗi bằng cách quét electron dưới kính hiển vi. Nhờ vậy, lần đầu tiên chúng ta có thể triển khai quy trình công việc theo nhiều cấp độ, từ cấp độ tổng quan đến cấp độ nguyên tử.
Tỷ lệ thải bỏ pin của xe điện hiện vẫn ở mức rất cao. Các công ty sản xuất pin quy mô lớn có thể làm ra khoảng một triệu cell pin mỗi năm tại một nhà máy. Nếu tỷ lệ thải bỏ trong quy trình đạt giá trị phần trăm đến hai chữ số, con số đó tương đương số lượng lớn pin bị thải bỏ vì không đạt chuẩn chất lượng. Cả lợi nhuận và môi trường cũng đều bị ảnh hưởng nặng nề.
Hơn nữa, quy trình sản xuất pin không hề dễ dàng, đặc biệt là nếu các công ty sản xuất muốn thu được lợi nhuận tối đa từ những vật liệu họ sử dụng. Khách hàng thường tìm đến Waygate Technologies để đánh giá hiệu quả xếp chồng điện cực. Những điện cực này mỏng, nằm xen kẽ nhau và phải được đặt rất chính xác thì mới đạt hiệu suất và chức năng tối đa. Cứ mỗi điện cực nằm sai vị trí, dung lượng của pin sẽ giảm và gây ra những vấn đề như giảm quãng đường ô tô di chuyển được.
Trong bối cảnh nhu cầu sử dụng pin trong ngành thiết bị điện tử ngày càng tăng nhanh, các công ty sản xuất cần rút ngắn thời gian phát triển và đẩy nhanh chu trình sản xuất, nhưng không được hy sinh chất lượng và độ an toàn tối đa của sản phẩm. Thiết bị lỗi không chỉ có nguy cơ dẫn đến trách nhiệm pháp lý, mà còn tiềm ẩn rất nhiều rủi ro tổn hại danh tiếng. Pin Lithium-Ion là một trong những thiết bị tích điện hiệu quả nhất được dùng trong các thiết bị điện tử cầm tay, nguồn điện tĩnh và xe điện. Các công ty sản xuất và nhà cung cấp đang nỗ lực tăng dung lượng pin, kéo dài tuổi thọ, cũng như tuân thủ tất cả các tiêu chuẩn về an toàn và đảm bảo chất lượng. Khi sử dụng giải pháp chụp CT công nghiệp để phát hiện lỗi sớm mà không cần phá hủy sản phẩm, nhà sản xuất có thể tránh được chi phí hạ nguồn vì có thể liên tục giám sát thành phẩm, thu thập dữ liệu thống kê về chất lượng sản phẩm và đảm bảo mọi thông số sản xuất luôn ở mức tối ưu. Các giải pháp chụp CT và X quang công nghiệp hiện đại của Waygate Technologies cho phép kiểm thử hàng mẫu và pin theo cách không phá hủy với độ linh hoạt và an toàn cao. Ngoài ra, Waygate Technologies còn cung cấp ứng dụng đo đạc và kiểm thử nâng cao để phân tích và kiểm soát chất lượng ở mọi giai đoạn của chu kỳ pin - từ phòng thí nghiệm cho đến khâu sản xuất hàng loạt.
Công nghệ CT cho phép kiểm tra nhiều loại pin với đủ mọi kích cỡ và kiểm tra lỗi trên cùng dây chuyền hoặc nhiều dây chuyền khác nhau. Ngoài ra, giải pháp này làm giảm thời gian chuyển đổi và số lượng nhân công cần có để di chuyển lượng lớn pin đến khâu kiểm tra.
Pin có đặc điểm rất đa dạng. Chẳng hạn, ngành xe điện vẫn đang trong quá trình rút kinh nghiệm liên tục. Lý do là vì trong ngành sản xuất hàng loạt mới nổi này, dữ liệu về những hạng mục gặp sự cố vẫn đang được thu thập và hiện chưa có biện pháp kiểm soát quy trình thống kê. Các quy trình phải được điều chỉnh lại thường xuyên. Mỗi khi có thay đổi, quá trình rút kinh nghiệm lại bắt đầu từ đầu. Trong ngành thiết bị điện tử, pin đã đạt đến trình độ phát triển cao hơn, nhưng mặt khác, khối lượng sản xuất hàng hoạt cần phải quản lý cũng lớn hơn rất nhiều.
Waygate Technologies cung cấp phần mềm ADR dưới dạng tích hợp vào nền tảng phần mềm InspectionWorks (phần mềm quản lý dữ liệu toàn diện, linh hoạt), kết hợp với đội ngũ chuyên gia dịch vụ lành nghề. Sau khi được đội ngũ chuyên gia của Waygate Technologies thiết lập và triển khai tại cơ sở của khách hàng, phần mềm ADR X|approver có thể tự động huấn luyện thuật toán cách xử lý các tác vụ kiểm tra mà khách hàng thường thực hiện, cũng như cách xử lý lỗi xảy ra trong quá trình thực hiện những tác vụ này. Bằng cách học về các loại lỗi cụ thể, phần mềm ADR sẽ cho ra kết quả ngày càng chính xác hơn, giảm số lượng lỗi giả và đảm bảo tăng hiệu quả kiểm tra.
Dòng sản phẩm Phoenix của chúng tôi sẽ đem lại kết quả đáng tin cậy cho cả các công ty sản xuất phụ tùng gốc cho xe và thiết bị điện tử lẫn nhà cung cấp.
Chúng tôi luôn phát hiện được các lỗi mới trong dây chuyền sản xuất pin. Hệ thống CT của chúng tôi hỗ trợ phân tích pin một cách toàn diện. Các thiết bị kiểm thử khác chỉ tập trung vào một dạng lỗi duy nhất. Các thiết bị này sẽ tiến hành kiểm thử để phát hiện một lỗi, sau khi loại bỏ được lỗi đó, hàng mẫu có thể vẫn nhận về kết quả kiểm thử không đạt vì có lỗi khác. Công nghệ CT hoạt động với cơ chế hoàn toàn khác. Hệ thống CT của chúng tôi có thể phát hiện ra tất cả các lỗi với xác suất 90% vì hệ thống này rất linh hoạt. Hơn nữa, đội ngũ chuyên gia của Waygate Technologies có thể hỗ trợ ứng phó nhanh để kiểm thử những dạng lỗi mới, nếu có. Giải pháp CT chính hiện đang được các nhà sản xuất pin sử dụng là dòng Phoenix V|tome|x với nhiều phiên bản khác nhau, tùy thuộc vào yêu cầu của từng khách hàng. Đội ngũ hỗ trợ và bảo trì giàu kinh nghiệm tại Waygate Technologies luôn sẵn sàng trợ giúp khách hàng lập kế hoạch, thiết lập, điều chỉnh và bảo trì vào bất kỳ thời điểm nào.
Đối với phương thức kiểm tra hàng loạt hoàn toàn tự động, chúng tôi cung cấp giải pháp Speed|scan HD mới, hiện đang được tích hợp vào các nhà máy sản xuất pin đầu tiên của những công ty sản xuất pin hàng đầu thế giới.
Waygate Technologies có hơn một thập kỷ kinh nghiệm trong lĩnh vực kiểm tra pin và phát hiện lỗi theo hình thức không phá hủy. Các công ty có kinh nghiệm sản xuất pin điện thoại di động đã bắt đầu chế tạo những loại pin lớn hơn dùng cho xe điện. Mặc dù pin xe điện là lĩnh vực ứng dụng hoàn toàn khác, nhưng Waygate Technologies rất giàu kinh nghiệm về các giải pháp kiểm tra pin và chúng tôi có thể nhanh chóng triển khai cho ngành ô tô. Kiến thức tổng hợp của các đội ngũ chuyên trách hệ thống CT cho phép Waygate Technologies thiết lập máy móc hiệu quả và xử lý sự cố nhanh chóng. Các hệ thống của chúng tôi vô cùng linh hoạt và dễ vận hành. Đội ngũ hỗ trợ và bảo trì dày dạn kinh nghiệm của chúng tôi luôn sẵn sàng trợ giúp khách hàng bất kỳ lúc nào, cũng như giúp các nhà sản xuất tìm ra giải pháp tốt nhất cho khó khăn tương ứng mà họ gặp phải.
Không, ban đầu nhiều khách hàng sẽ tìm đến dịch vụ kiểm tra tại một trong các Trung tâm giải pháp khách hàng của Waygate Technologies trên toàn cầu. Đội ngũ kỹ sư ứng dụng giàu kinh nghiệm sẽ hướng dẫn để họ tìm hiểu xem giải pháp CT nào phù hợp nhất với từng tác vụ kiểm tra của mình. Khi đã có niềm tin vào lợi ích chúng tôi có thể đem lại, về sau họ có thể cân nhắc mua một hệ thống cho nhà máy sản xuất nếu cần kiểm tra trên quy mô lớn, thay vì thuê dịch vụ kiểm tra theo giờ.