Phoenix Nanome|x 및 microme|x Neo 신규 릴리스

올해 초, Waygate Technologies는 Phoenix Nanome|x와 Microme|x Neo 신규 릴리스와 함께 전자 장치 검사에 특화된 마이크로포커스 및 나노포커스 X-선 및 CT(평면 CT 포함) 검사 기능의 최신 산업 표준을 도입했습니다. 신규 릴리스의 특징은 다음과 같습니다. 

• 여러 용도에 보다 적합한 다양한 검출기 옵션
• X-선에 민감한 구성 요소를 보호하는 데 최적화된 X-선 튜브
• 효율성 향상 및 사용 편의성을 위해 향상된 소프트웨어 기능

용도: 업데이트된 제품은 앞서 말한 두 가지 주요 산업 분야에서 다양한 용도를 지원합니다.

주요 특징과 이점:

• 초고분해능 검출기 옵션 - 소형 구성 요소와 반도체를 위한 100/85μm 픽셀 크기
• 스마트 X-선 튜브 및 선량 측정  - 장기적인 X-선 방사로부터 (검사한) 구성 요소 보호
• 자동 검사 보고서 - 효율성 향상과 사용 편의성을 위해 생성
• 제조 실행 시스템(MES) 인터페이스 및 CAD 파일 가져오기 옵션  - 시스템 상호 연결성 증가