Nuova versione di Phoenix Nanome|x e microme|x Neo

A inizio anno, Waygate Technologies ha lanciato una nuova versione dei nostriprodotti Phoenix Nanome|x e Microme|x Neo, introducendo lo standard di settore più recente per raggi X e TC microfocus e Nanofocus, inclusa la capacità d'ispezione Planar TC con particolare attenzione alle applicazioni d'ispezione elettronica.La novità prevede:

• Più opzioni del rilevatore per adattarsi meglio alle molteplici applicazioni
• Un tubo a raggi X ottimizzato per la protezione dei componenti sensibili ai raggi X
• Funzionalità software avanzate per una maggiore efficienza e facilità d'utilizzo

Applicazioni:Il prodotto aggiornato offre un'ampia gamma di applicazioni per i due settori verticali chiave sopra visualizzati.

Caratteristiche e vantaggi principali:

• Opzione rilevatore ad altissima risoluzione con dimensioni pixel di 100/85μm per componenti e semiconduttori di piccole dimensioni
• Il tubo radiogeno serie Smart e la misurazione della dose proteggono i componenti (ispezionati) dalle radiazioni a raggi X prolungate
• I rapporti d'ispezione automatici vengono generati per una maggiore efficienza e facilità d'utilizzo
• L'interfaccia Manufacturing Execution System (MES) e l'opzione d'importazione di file CAD aumentano l'interconnettività del sistema