Phoenix Nanotom® M
El Phoenix Nanotom® M es un sistema de TC de rayos X con nanoenfoque para la tomografía computarizada (microCT y nanoCT®) y la metrología 3D en el ámbito científico e industrial. El sistema obtiene una excepcional resolución espacial y de contraste en una amplia gama de muestras y aplicaciones. La ejecución totalmente automatizada de procesos de escaneado, reconstrucción y análisis de CT facilita el uso y garantiza que los resultados de CT son rápidos y fiables. Se pueden obtener mediciones 3D reproducibles de objetos complejos y generar informes de la inspección del primer artículo en una hora.
La tomografía computarizada (TC) de alta resolución se ha convertido en una potente herramienta de inspección para una amplia gama de aplicaciones industriales y científicas de inspección y metrología, como el análisis no destructivo de estructuras y fallos, así como para el aseguramiento de la calidad o el control de la producción.
Con su tubo de rayos X con nanoenfoque de 180 kV/20 W de rendimiento ultraalto, mecánica de precisión y módulos de software avanzados, el Phoenix Nanotom® M es la solución de inspección adecuada para una amplia gama de aplicaciones de TC 3D. Una vez hecho el escaneado, la información tridimensional de la TC permite muchas posibilidades de análisis, como la visualización no destructiva de cortes, vistas seccionales arbitrarias o el análisis automático de poros.
Características principales
Características principales
Ventajas
Ventajas que ofrece:
- Una excepcional resolución espacial y de contraste en una amplia gama de muestras, desde materiales pequeños a muestras de plástico medianas
- También para montajes electrónicos de hasta 240 mm de diámetro, 250 mm de altura y 3 kg de peso
- Paquete de metrología 3D optimizado para garantizar unas condiciones de adquisición estables, una reconstrucción rápida completada en cuestión de minutos y resultados de medición reproducibles
- Facilidad de uso optimizada gracias al diseño del sistema y al software de CT avanzado Phoenix Datos|x
Características
El Phoenix Nanotom® M incluye todas las características esenciales para la TC con una precisión y una reproducibilidad extremadamente altas:
- Cabina con temperatura estable
- Sistema de medición directa de alta precisión
- Aislamiento antivibratorio del manipulador
- Unidad de rotación de precisión sobre cojinetes de aire
- Detector DXR con temperatura estabilizada para obtener una calidad de imagen brillante
Aplicaciones
La NanoCT puede competir en muchos campos de aplicación en los que las instalaciones de sincrotrón disponibles son limitadas, por ejemplo:
- Ciencia de los materiales
- Microingeniería
- Electrónica
- Ciencias de la vida o dispositivos médicos
- Geociencias
Tubo abierto de rayos X de nanoenfoque de alta energía de 180 kV/20 W con una capacidad de detección de detalles de hasta 200 nm y refrigeración interna, todo ello optimizado para ofrecer estabilidad a largo plazo
Calidad de imagen extremadamente alta (3072 x 2400 píxeles) gracias al detector DXR digital con estabilización de temperatura para un alto rango dinámico > 10.000:1
Con Datos|x se puede automatizar completamente toda la cadena de procesos de TC. De esta manera se minimiza el tiempo y la influencia del operador, al tiempo que se aumenta en gran medida la repetibilidad y reproducibilidad de los resultados de la TC.
Paquete de metrología para aplicaciones de metrología 3D que incluye: carcasa con estabilización de temperatura, sistema de medición directa de alta precisión y aislamiento frente a la vibración del manipulador de granito
Función Helix|scan opcional para escanear piezas más grandes con una calidad superior
Para obtener una estabilidad del punto focal extremadamente alta y adquisición de datos hasta dos veces más rápida para el mismo nivel de alta calidad de la imagen
Especificaciones técnicas
Especificaciones técnicas
Aunque el punto focal de los tubos de microenfoque tiene un tamaño de tan solo unas micras, sigue siendo lo suficientemente grande como para causar una media sombra, conocida como efecto penumbra. El resultado es una falta de nitidez que puede evitarse utilizando una tecnología con nanoenfoques. La tecnología con nanoenfoque permite obtener puntos focales con tamaño menor de una micra, manteniendo al mismo tiempo la mayor intensidad necesaria. El Nanotom M combina los últimos avances de microCT con la posibilidad de escanear muestras pequeñas y de baja absorción con una detectabilidad submicrométrica.
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