电子产品的无损 (NDT) X 射线检测

Phoenix Microme|x neo 和 Nanome|x neo AXI 系统在同一个系统中提供了高分辨率的 2D X 射线检测和 3D 计算机断层扫描技术 (CT)，可以在工业、汽车、航空航天和消费类电子行业中对电子元器件（如半导体、PCB、锂电池等）进行无损检测 (NDT)。

凭借创新的工程设计和超高的定位精度，Phoenix Microme|x neo 和 Nanome|x neo 非常适用于在生产过程把控、质量控制、故障分析和研发等应用中进行电子产品的高度自动化工业 X 射线检测。

Phoenix X|act 是一款功能强大的大型图像处理软件，可进行自动循环检测编程。 手动以及全自动 X 射线检测都可以轻松自如地完成。

对于手动 X 射线检测，Waygate Technologies 的选配 Flash!™ 图像优化技术能够实现更快、更可靠的故障检测。

Phoenix X|aminer 是一款易于使用的入门级微焦点 X 射线检测 (AXI) 系统，性能强劲，专为电子产品、元器件和 PCBA 高分辨率检测的特殊需求而设计。

凭借 CMOS 平板探测器和计算机断层扫描技术 (CT) 的新组合，该系统在信噪比、清晰度和实时成像能力等方面都有非常显著的提升。强大的 Phoenix X|act base 软件和 Phoenix Datos|x base 软件的操作方便，可分别应用于 CT 用 2D 检测，而且操作员也可以选择进行手动或自动检测。

我们的 PlanarCT 模块让 Phoenix Microme|x 和 Nanome|x 自动化 X 射线检测系统的用户能够对复杂电路板组件中的焊点和封装进行更好、更可靠的检测。

PlanarCT 扫描易于调整，而无需在旋转台上进行样品的固定等准备工作。 电路板只需放在操纵台上，在转台旋转的同时，扫描相应的区域。 经过改造的 PlanarCT 有助于您从单个截面或多重截面中获得整个样品准确检测结果，而不会重叠电路板上不同区域的结构。 借助我们随附的 3D|viewer，也可开展整体评估任务。