O micro/nano scanner de TC de tubo duplo industrial mais flexível do mundo
Conheça o futuro dos testes não destrutivos com o novo
Phoenix V|tome|x M Neo.
Nossa principal solução de tomografia computadorizada estabelece um novo padrão em flexibilidade, velocidade e qualidade de detecção, tornando-a a escolha ideal para uma ampla gama de aplicações em diversos setores.
Experience the wide range of benefits the Phoenix V|tome|x M Neo has to offer
Faixa de amostragem mais ampla a um peso de amostra maior
Carregamento e descarregamento rápido e tranquilo
Manutenção simplificada para maior produtividade e menos tempo de inatividade
Maior flexibilidade, velocidade e qualidade de detecção
• Tubos de microfoco e nanofoco de alto desempenho
• A configuração de tubo duplo com orientação horizontal melhora a aquisição de imagens
• Detectores Dynamic 41 exclusivos
• Tecnologia High Flux Target para digitalização mais rápida
- Porta de manutenção de fácil acesso
- Manipulador reprojetado para oferecer alta eficiência
- Duas grandes portas deslizantes proporcionam uma operação sem esforço
- Carregamento flexível via guindaste interno ou externo
- Painel de controle altamente versátil
- Área de digitalização expandida adequada para inspecionar peças pequenas e grandes
- Distância do detector de foco variável alta
- Fluxos de trabalho de reconhecimento automático de defeitos (ADR) por meio do software X|approver
- Equipado com o mais recente software Datos|x, proporcionando controle total da aquisição de dados e reconstrução de dados ainda mais rápida
Applications
Feito para atender aos desafios do seu setor
O Phoenix V|tome|x M Neo é um sistema flexível adequado para uma ampla gama de aplicações de metrologia, pesquisa e avaliação 3D em ambientes de laboratório. Além disso, seus recursos de automação o tornam adequado para testes precisos em ambientes de produção, fornecendo resultados confiáveis para aplicações industriais.
Na indústria aeroespacial, o Phoenix V|tome|x M Neo serve como uma ferramenta versátil e indispensável com diversas aplicações. Ele se destaca na inspeção e avaliação de componentes críticos, como aerofólios, peças fabricadas com aditivos usadas para peças de reposição e fins de manutenção, tecnologia de ponta de fibra de carbono e componentes eletrônicos complexos para satélites.
O Phoenix V|tome|x M Neo é uma solução eficiente para testes de bateria, oferecendo medições precisas de ânodo e cátodo, bem como análise de falhas para diversas configurações de células de bateria, como tipo bolsa, prismáticas, dobradas e empilhadas. Seus recursos avançados garantem a confiabilidade e a eficiência das tecnologias de bateria, contribuindo para seu melhor desempenho em diversas aplicações.
Seja avaliando microestruturas, examinando juntas de solda ou inspecionando placas de circuito, o Phoenix V|tome|x M Neo fornece informações valiosas que contribuem para aumentar a confiabilidade do produto, otimizar os processos de fabricação e acelerar os esforços de pesquisa e desenvolvimento no setor de eletrônicos.
Um longo legado
Dando continuidade a uma tradição
O Phoenix V|tome|x M Neo é um sistema de TC industrial de última geração, desenvolvido a partir do sucesso da plataforma amplamente usada Phoenix V|tome|x, que conta com milhares de instalações no mundo todo. Ele oferece avanços notáveis, incluindo resultados de imagem aprimorados, uma área de digitalização expandida para amostras maiores e mais pesadas, distância variável do detector de foco e um novo design de gabinete para maior flexibilidade e acessibilidade.
Avanços em imagens e análises com desempenho superior
Tubo de raios X microfoco de 300 kV/500 W, especialmente otimizado para aplicações de tomografia computadorizada opcionalmente combinado com um tubo de raios X de nanofoco de alta potência de 180 kV/20 W para realizar varreduras de maior precisão de amostras menores e de menor absorção
Vida útil do filamento até 10 vezes maior, garantindo estabilidade a longo prazo e otimizando a eficiência do sistema por filamentos de longa duração (opcionalmente)
A tecnologia Scatter|correct patenteada exclusiva da Waygate Technologies permite executar tomografias computadorizadas altamente precisas de amostras com alta dispersão de radiação com a qualidade de imagem superior da TC de feixe em leque com rendimento até 100 vezes mais rápido da TC de feixe cônico
Resolução dupla de TC na mesma velocidade ou produtividade dupla no mesmo nível de qualidade dos detectores DXR com espaçamento de 200 µm. Comparada aos detectores de 16 bits, a tecnologia otimizada de 14 bits oferece a mais alta eficiência com uma faixa dinâmica de 10.000:1 e, portanto, poupa tempo de uso e também gera menos ruído na imagem
Digitalize peças ainda maiores com um volume de digitalização até cerca de 70% maior
Defina um eixo de rotação de varredura virtual para facilitar o ajuste da varredura e varreduras de TC ROI flexíveis
A ferramenta Multi|bhc corrige artefatos de manchas que normalmente ocorrem, como múltiplas faixas escuras posicionadas entre áreas densas em amostras multimateriais
Filtro correto de dispersão adaptativo que oferece qualidade de imagem incomparável, reduzindo significativamente os artefatos causados pela redução dos valores de cinza em conjuntos de dados de TC de amostra de alta absorção
Este suporte facilmente removível permite a troca automática de diferentes amostras
Em combinação com o Sample|changer, o Filter|changer opcional permite realizar tomografias computadorizadas em lote misto
Automatize totalmente sua aquisição de dados, processamento de volume e avaliação com facilidade
Serviços industriais globais de raio X 2D e TC 3D da Waygate Technologies
