Pour connaître la fiabilité et la sécurité des pièces et équipements que vous produisez, des mesures de haute précision sont requises tout au long du processus de fabrication. Les systèmes avancés haute précision de métrologie industrielle et de tomographie par ordinateur de Waygate Technologies permettent d'effectuer des mesures avec une précision de quelques micromètres, même sur des surfaces internes cachées, et de produire des géométries de haute précision en un seul balayage.
Les scanners de tomographie de Waygate Technologies fournissent des données haute résolution des écarts géométriques internes qui sont hors de portée même pour les machines de mesure coordonnée de pointe. Nos solutions vont des scanners pour petites pièces aux scanners robotiques industriels adaptés aux lignes de production et à portique, pour vous fournir toutes les données dont vous avez besoin.
Nos solutions vous offrent un accès aux bons outils pour réaliser des étalonnages et des essais de validation de système complètement automatisés, n'importe quand, sans avoir besoin de faire appel à un technicien.Améliorez votre efficacité avec des étalonnages de système 3x plus rapides et plus faciles, à l'aide de nos technologies brevetées fantômes Ruby|plate et True|position.Nous simplifions également les mises à jour, Metrology 2.0 étant à présent disponible en option pour le scanner Phoenix V|tome|x M microCT.Des mises à niveau conformes à la norme VDI/VDE 2630-1.3 sont également disponibles pour les systèmes Phoenix V|tome|x C450 et V|tome|x L300/L450, pour les applications nécessitant de plus grands volumes de scan, l'utilisation du minifocus, ou d'une combinaison minifocus-microfocus.
Une technologie brevetée telle que Scatter|correct de Waygate Technologies permet un balayage des matériaux à haute diffusion avec la même précision sans phénomènes parasites que la tomographie à faisceau en éventail, mais avec la tomographie à faisceau conique, beaucoup plus rapide. De plus, les temps d'arrêt sont réduits avec des systèmes d'étalonnage 3x plus rapides et plus simples, à l'aide de nos fantômes Ruby|plate brevetés.
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Phoenix V|tome|x M Neo
Le scanner bi-tube de micro/nanotomographie industrielle le plus flexible au monde
Découvrez l'avenir des essais non destructifs
avec le nouveau Phoenix V|tome|x M Neo.
Notre solution phare de tomographie assistée par ordinateur établit une nouvelle norme de flexibilité, de rapidité et de qualité de détection, et s'impose comme le meilleur choix pour un large éventail d'applications au sein de différents secteurs.
True|position et Ruby|plate
Utilisé pour la compensation des incertitudes mécaniques résiduelles du système dans le package de métrologie 2.0, True|position élargit les deux positions de mesure avec la précision spécifiée par la norme VDI 2630 pour toutes les positions, afin d'améliorer la précision et les workflows de métrologie 3D. Cela peut se vérifier avec le fantôme d'étalonnage breveté Ruby|plate de Waygate Technologies, qui permet une vérification 3x plus rapide de la précision du système sans aucune interaction avec l'utilisateur.
Phoenix V|tome|x M300
Le premier scanner microCT hautement flexible du monde, conçu pour la métrologie 3D et l'analyse des défaillances, doté de la technologie Scatter|correct afin d'enlever automatiquement les artefacts de diffusion pour une meilleure qualité d'image.Dans sa configuration Metrology|edition, le système permet des mesures de haute précision, répétables, conformes à la norme de métrologie VDI 2630-1.3, de SD ≤ (3.8 ± L/100 mm) µm.
Phoenix V|tome|x C450
Un scanner de tomographie de précision 450 kV puissant et compact, spécialement conçu pour la tomographie 3D par ordinateur de gros échantillons. Son design orienté production et facile à entretenir offre une vitesse et une flexibilité qui assurent un contrôle de production et une métrologie en toute sécurité, avec des caractéristiques techniques de précision de SD ≤ (15 ± L/50 mm) µm conformes à la norme VDI/VDE 2630-1.3
Phoenix Nanotom M
Notre système nanoCT® pour les contrôles scientifiques et industriels par tomographie assistée par ordinateur (microCT et nanoCT) et la métrologie 3D permet des balayages, une reconstruction et une analyse complètement automatisés pour des résultats rapides, faciles et fiables, par exemple dans la recherche sur les matériaux, l'électronique ou le contrôle des appareils médicaux.
Phoenix V|tome|x L 300
Un système microfocus polyvalent à grande armoire pour la tomographie 3D (microCT+ nanoCT en option) et l'inspection 2D non destructive par rayons X, capable de manipuler de grands échantillons jusqu'à 50 kg et jusqu'à 950 mm de diamètre avec une spécification de précision extrêmement élevée de SD ≤ (6,8 ± L/100 mm) µm conforme à la norme VDI/VDE 2630-1.3.
Phoenix V|tome|x L 450
Le Phoenix V|tome|x L450 est un grand système à précision microscopique polyvalent pour la tomographie 2D et 3D par ordinateur
et les contrôles non destructifs par radiographie 2D. La manipulation se faisant sur une base granit,
il peut prendre en charge même les gros échantillons (jusqu'à 100 kg et 1 000 mm de diamètre) avec une très haute précision, de SD ≤ (6,8 ± L/100 mm) µm, conformément à la norme VDI/VDE 2630-1.3.
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