强大的技术，实现安全性、质量和生产力

世界上第一台为 3D 计量和故障分析而设计的高度灵活的微j焦点 CT 扫描仪，采用 Scatter|correct 技术，可自动去除散射伪影，提高图像质量。在其 Metrology|edition 配置中，该系统允许最高且可重复的 VDI 2630-1.3 计量标准，可满足精度为 SD ≤ (3.8 ± L/100 mm) µm 的测量。

一台功能强大、结构紧凑的 450 千伏精密 CT 扫描仪，专为大样本 3D 计算机断层扫描设计。 其面向生产、易维护的设计提升了速度和灵活性，可实现安全生产检测和计量，符合 VDI/VDE 2630-1.3 标准，精度为 SD ≤ (15 ± L/50 mm) µm。

我们的 nanoCT® 系统用于科学和工业计算机断层扫描（microCT 和nanoCT）检测和 3D 计量，实现了全自动化的 CT 扫描、重构和分析，可在诸如材料研究、电子或医疗设备检测领域快速简便地获得可靠的 CT 结果。

用于三维计算机断层扫描（microCT+ 可选的 nanoCT）和二维无损 X 射线检测的多功能大型柜式微聚焦系统，能够处理重达 50 千克、直径达 950 毫米的大型样品，其 SD ≤ (6.8 ± L/100 mm) µm 的极高精度规格符合 VDI/VDE 2630-1.3 标准。

Phoenix V|tome|x L450 是一个大型多功能微聚焦系统，用于 2D 和 3D 计算机断层扫描以及
2D X 射线无损检测。 凭借其龙门式
操纵方式，它甚至能够以极高的精度规格（SD ≤ (6.8 ± L/100 mm) µm，符合 VDI/VDE 2630-1.3 标准）处理重达 100 公斤、直径达 1.000 毫米的大型样品。