Nueva versión de Phoenix Nanome|x y microme|x Neo

A principios de este año, Waygate Technologies lanzó una nueva versión de nuestros productos Phoenix Nanome|x y Microme|x Neo, presentando el último estándar de la industria para rayos X y TC de microenfoque y nanoenfoque, que incluye la capacidad de inspección Planar CT, con un enfoque en las aplicaciones de inspección de electrónica. La nueva versión proporciona: 

• Más opciones de detectores para adaptarse mejor a múltiples aplicaciones
• Un tubo de rayos X optimizado para proteger los componentes sensibles a los rayos X
• Funciones de software mejoradas para una mayor eficiencia y facilidad de uso

Aplicaciones: el producto actualizado ofrece una amplia gama de aplicaciones en dos sectores verticales clave de la industria que se muestran arriba.

Características y beneficios clave:

• Opción de detector de resolución ultraalta con tamaño de píxel de 100/85 μm para componentes y semiconductores de tamaño pequeño
• El tubo de rayos X inteligente y la medición de dosis protegen los componentes (inspeccionados) de la radiación de rayos X prolongada
• Se generan informes de inspección automáticos para mejorar la eficiencia y la facilidad de uso
• La interfaz del sistema de ejecución de fabricación (MES) y la opción de importación de archivos CAD aumentan la interconectividad del sistema