Der weltweit flexibelste industrielle Mikro-/Nano-CT-Scanner mit Doppelröhre
Entdecken Sie die Zukunft der zerstörungsfreien Prüfung mit dem brandneuen
Phoenix V|tome|x M Neo.
Unsere Vorzeige-Computertomographielösung setzt neue Maßstäbe hinsichtlich Flexibilität, Geschwindigkeit und Erkennungsqualität und ist damit die ultimative Wahl für eine Vielzahl von Anwendungen in verschiedenen Branchen.
Experience the wide range of benefits the Phoenix V|tome|x M Neo has to offer
Größerer Probenumfang bei höherem Probengewicht
Müheloses und schnelleres Beladen und Entladen
Einfachere Wartung für gesteigerte Produktivität und reduzierte Ausfallzeiten
Höhere Flexibilität, Geschwindigkeit und Erkennungsqualität
• Leistungsstarke Mikrofokus- und Nanofokusröhren
• Die zwei Röhren mit horizontaler Ausrichtung verbessern die Bilderfassung
• Exklusive Dynamic 41-Detektoren
• Die High Flux Target-Technologie ermöglicht schnellere Scans
- Leicht zugängliche Wartungstür
- Ein neu konstruierter Manipulator, der eine hohe Effizienz ermöglicht
- Zwei große Schiebetüren für mühelose Bedienung
- Flexibles Beladen über internen oder externen Kran
- Hochflexibles Bedienfeld
- Erweiterter Scanbereich zur Inspektion von kleinen und großen Teilen
- Stark variable Fokusdetektor-Entfernung
- ADR-Workflows (automatische Fehlererkennung) über X|approver-Software
- Ausgestattet mit der neuesten Datos|x-Software für die volle Kontrolle über die Datenerfassung und eine noch schnellere Datenrekonstruktion
Anwendungen
Für Ihre branchenspezifischen Herausforderungen entwickelt
Der Phoenix V|tome|x M Neo ist ein flexibles System, das für eine Vielzahl von 3D-Messtechnik-, Forschungs- und Bewertungsanwendungen in Laborumgebungen geeignet ist. Darüber hinaus ist das System aufgrund seiner Automatisierungsfunktionen ideal für präzise Tests in Produktionsumgebungen geeignet, die zuverlässige Ergebnisse für industrielle Anwendungen liefern.
In der Luft- und Raumfahrtindustrie dient der Phoenix V|tome|x M Neo als vielseitiges und unverzichtbares Werkzeug mit vielfältigen Anwendungsmöglichkeiten. Er zeichnet sich besonders bei der Inspektion und Bewertung kritischer Komponenten wie Tragflächen, additiv gefertigten Teilen, die als Ersatzteile und für Wartungszwecke verwendet werden, modernster Kohlefaser-Technologie und komplexen elektronischen Komponenten für Satelliten aus.
Der Phoenix V|tome|x M Neo ist eine leistungsstarke Lösung für dieBatterieprüfung , die präzise Anoden- und Kathodenmessungen sowie Fehleranalysen für verschiedene Batteriezellkonfigurationen wie prismatische, Pouch-, gefaltete und gestapelte Zellen bietet. Seine fortschrittlichen Fähigkeiten gewährleisten die Zuverlässigkeit und Effizienz von Batterietechnologien und tragen so zur verbesserten Leistung in verschiedenen Anwendungen bei.
Ganz gleich, ob es darum geht, Mikrostrukturen zu bewerten, Lötverbindungen zu untersuchen oder Leiterplatten zu inspizieren, der Phoenix V|tome|x M Neo liefert wertvolle Erkenntnisse, die zur Verbesserung der Produktzuverlässigkeit, zur Optimierung von Fertigungsprozessen und zur Beschleunigung von Forschungs- und Entwicklungsaktivitäten in der Elektronikindustrie beitragen.
Eine lange Tradition
Auf Traditionen aufbauen
Der Phoenix V|tome|x M Neo ist ein industrielles CT-System der nächsten Generation, das auf dem Erfolg der weit verbreiteten Phoenix V|tome|x-Plattform mit über 1000 Installationen weltweit aufbaut. Es bietet bemerkenswerte Fortschritte, darunter verbesserte Bildgebungsergebnisse, einen erweiterten Scanbereich für größere und schwerere Proben, variable Fokus-Detektor-Abstände und ein neues Gehäusedesign für erhöhte Flexibilität und bessere Zugänglichkeit.
Fortschritte in der Bildgebung und Analyse mit überragender Leistung
300 kV / 500 W Mikrofokus-Röntgenröhre - speziell für CT-Anwendungen optimiert und optional mit einer Hochleistungs-Nanofokus-Röntgenröhre mit 180 kV/20 W kombinierbar, um Scans kleinerer Proben mit weniger Absorption mit höchster Präzision zu ermöglichen
Bis zu zehnfache Filamentlebensdauer für langfristige Stabilität und optimale Systemeffizienz durch Long-life|filament (optional)
Die exklusive, patentierte Scatter|correct-Technologie von Waygate Technologies ermöglicht es Ihnen, hochgradig präzise CT-Scans von Proben mit hoher Strahlungsstreuung mit der hohen Bildqualität einer Fächerstrahl-CT und dem bis zu einhundert Mal höheren Durchsatz einer Kegelstrahl-CT durchzuführen.
Doppelte CT-Auflösung bei selber Geschwindigkeit oder doppelter Durchsatz bei selber Qualität wie DXR-Detektoren mit 200 µm Pixelabstand. Im Vergleich zu 16-Bit-Detektoren bietet die optimierte 14-Bit-Technologie die höchste Effizienz mit einem Dynamikbereich von 10000:1, was im Einsatz Zeit spart und zudem weniger Bildrauschen erzeugt
Mit einem bis zu 70 % größeren Scanvolumen lassen sich noch größere Bauteile untersuchen
Mit einer virtuellen Scan-Rotationsachse können Sie Scans einfach anpassen und CT-Scans mit flexibler ROI vornehmen
Das Multi|bhc-Tool korrigiert Streaking-Artefakte, die üblicherweise bei Multimaterialproben als mehrere dunkle Bänder zwischen dichten Bereichen auftreten
Der adaptive Scatter-Correct-Filter bietet eine unübertroffene Bildqualität, da er die Artefakte, die durch reduzierte Grauwerte in CT-Datensätzen von Proben mit hoher Absorption entstehen, signifkant reduzieren kann
Dieser einfach abnehmbare Halter erlaubt ein automatisches Wechseln verschiedener Proben
In Kombination mit dem Sample|changer ermöglicht der optionale Filter|changer CT-Scans an gemischten Batches
Einfache Vollautomatisierung der Datenerfassung, Volumenverarbeitung und Evaluierung
Globale Serviceleistungen zu industriellen Röntgen-2D- und -3D-CT-Scansystemen von Waygate Technologies
