El escáner industrial de doble tubo para micro/nano TC más flexible del mundo
Descubra el futuro de los ensayos no destructivos con el nuevo
Phoenix V|tome|x M Neo.
Nuestra solución estrella en tomografía computarizada establece el nuevo estándar en flexibilidad, velocidad y calidad de detección, lo que la convierte en la opción definitiva para una amplia variedad de aplicaciones en diversos sectores.
Experience the wide range of benefits the Phoenix V|tome|x M Neo has to offer
Rango de tamaños de muestra más amplio con aumento del peso de las muestras
Cargas y descargas más rápidas y sin esfuerzo
Productividad mejorada y tiempos de inactividad reducidos gracias al mantenimiento simplificado
Flexibilidad, velocidad y calidad de detección optimizadas
• Tubos de microenfoque y nanoenfoque de alto rendimiento
• Tubo doble con orientación horizontal que mejora la adquisición de imágenes
• Detectores exclusivos Dynamic 41
• Tecnología High Flux Target que agiliza el escaneado
- Acceso sencillo a la puerta de mantenimiento
- Gran eficiencia gracias al manipulador rediseñado
- Dos grandes puertas correderas para un funcionamiento sin esfuerzo
- Carga flexible mediante grúa interna o externa
- Panel de control altamente versátil
- Zona de escaneado ampliada adecuada para inspeccionar piezas grandes y pequeñas
- Distancia variable entre foco y detector
- Flujos de trabajo de reconocimiento automatizado de defectos (ADR) a través del software X|approver
- Equipado con el software Datos|x más reciente, que proporciona control total en su adquisición de datos e incluso reconstrucciones de datos más rápidas
Aplicaciones
Creado para superar sus desafíos industriales
El Phoenix V|tome|x M Neo es un sistema flexible adecuado para una amplia variedad de aplicaciones de metrología 3D, investigación y evaluación en entornos de laboratorio. Asimismo, sus funciones de automatización lo convierten en una buena elección para obtener pruebas precisas en entornos de producción, ya que proporciona resultados fiables en aplicaciones industriales.
En el sector aeroespacial, el sistema Phoenix V|tome|x M Neo sirve como herramienta versátil e indispensable que ofrece diversas aplicaciones. Destaca en las tareas de inspección y evaluación de componentes críticos, tales como láminas aerodinámicas, piezas fabricadas con aditivos que se utilizan como piezas de repuesto y con fines de mantenimiento, tecnología vanguardista de fibra de carbono y complejos componentes electrónicos destinados a la fabricación de satélites.
El Phoenix V|tome|x M Neo es una solución avanzada para pruebas de baterías, ya que ofrece mediciones de ánodos y cátodos precisas, así como análisis de fallos en varias configuraciones de celdas de batería, como las prismáticas, de bolsa, plegadas y apiladas. Sus avanzadas funciones aseguran la fiabilidad y eficiencia de las baterías, lo que contribuye a mejorar el rendimiento en diversas aplicaciones.
El sistema Phoenix V|tome|x M Neo, ya sea para evaluar microestructuras, examinar juntas de soldadura o inspeccionar placas de circuitos, proporciona valiosa información que contribuye a mejorar la fiabilidad de los productos, optimizar los procesos de fabricación y acelerar el trabajo de investigación y desarrollo del sector de la electrónica.
Un gran legado
Construyendo sobre tradición
El Phoenix V|tome|x M Neo es un sistema industrial de TC avanzado, cuyo desarrollo se basa en la popular plataforma de Phoenix V|tome|x, que cuenta con miles de instalaciones en todo el mundo. Ofrece extraordinarios avances, por ejemplo, resultados de imagen optimizados, una zona de escaneo ampliada para obtener muestras más pesadas y grandes, distancia variable entre foco y detector y un nuevo diseño del armario que mejora la flexibilidad y la accesibilidad.
Imágenes y análisis avanzados con un rendimiento de calidad
Tubo de rayos X de microenfoque de 300 kV / 500 W: especialmente optimizado para aplicaciones de TC combinado opcionalmente con un tubo de rayos X de nanoenfoque de 180 kV/20 W de alta potencia para escaneados de máxima precisión de muestras más pequeñas y de menor absorción
Vida útil del filamento hasta 10 veces superior para garantizar la estabilidad a largo plazo y optimizar la eficiencia del sistema con Long-life|filament (opcional)
La exclusiva tecnología patentada Scatter|correct de Waygate Technologies le permite realizar escaneados de TC de alta precisión de muestras con alta dispersión de radiación con la calidad de imagen superior de TC de haz en abanico con un rendimiento hasta cien veces más rápido que la TC de haz cónico.
Doble resolución de TC a la misma velocidad o doble rendimiento con el mismo nivel de calidad que los detectores DXR de 200 µm de espesor. En comparación con los detectores de 16 bits, la tecnología optimizada de 14 bits ofrece la máxima eficacia con un rango dinámico de 10000:1, por lo que ahorra tiempo de uso y también genera menos ruido en la imagen
Escanee piezas aún más grandes con un volumen de escaneado hasta un ~70 % mayor
Defina un eje de rotación de escaneado virtual para facilitar el ajuste del escaneado y los escaneados de TC de ROI flexibles
La herramienta Multi|bhc corrige los artefactos de “streaking” o rayado que suelen aparecer como múltiples bandas de rayas oscuras situadas entre áreas densas en muestras multimaterial
Filtro adaptativo de corrección de la dispersión que ofrece una calidad de imagen inigualable al reducir significativamente los artefactos causados por la reducción de los valores de gris en los conjuntos de datos de TC de muestras de alta absorción
Este soporte fácilmente extraíble permite el cambio automático de diferentes muestras
En combinación con Sample|changer, el Filter|changer opcional permite realizar escaneados de TC de lotes mixtos
Automatice completamente la adquisición de datos, el procesamiento de volúmenes y la evaluación con facilidad
Servicios globales de escaneado de TC 3D y rayos X 2D para aplicaciones industriales de Waygate Technologies
