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世界で最も柔軟な産業用デュアル管マイクロ/ナノ CT スキャナー

まったく新しい
Phoenix V|tome|x M Neo

で非破壊検査の未来へ。当社のフラッグシップ CT ソリューションは柔軟性、スピード、検出の質において新たな基準を打ち立て、さまざまな産業で幅広い用途に対応する究極の選択肢となっています。

Experience the wide range of benefits the Phoenix V|tome|x M Neo has to offer

industry icon

対応するサンプル重量とサイズの範囲が拡大

Image Card Batteries

楽々、迅速なロードとアンロード

Image Card Batteries

メンテナンスが容易になり、生産性の向上とダウンタイムの削減を実現

Image Card Batteries

柔軟性、スピード、検出の質の向上

機能
高度な機能による優れたイメージングと分析

• 高性能マイクロフォーカス管とナノフォーカス管
• 水平方向のデュアル管セットアップにより、画像取得を改善
• 独自の Dynamic 41 検出器
• 迅速なスキャンを可能にする High Flux Target 技術

Advanced technology for superior image quality
高いサービス性を持つソリューション
  • アクセスしやすいメンテナンスドア
  • 高い効率性を実現する再設計されたマニピュレーター
Neo_High_Serviceability
アクセシブルな設計
  • 2 つの大きなスライドドアで楽々操作
  • 内部または外部のクレーンで柔軟に積載
  • 万能なコントロールパネル
Omni with Human
大きく重い部品向けに拡大されたスキャンエリア
  • 小型部品と大型部品両方の検査に適した、拡大されたスキャンエリア
  • 幅広い焦点と検出器の距離

 

Expanded scanning area for small and large parts
効率重視の自動化
  • X|approver ソフトウェアを使用した自動欠陥認識 (ADR) ワークフロー
  • データ取得を完全にコントロールし、データの再構築をさらにスピードアップさせる最新の Datos|x ソフトウェアを搭載
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用途

業界の課題に対応するシステム

Phoenix V|tome|x M Neo は、研究環境におけるさまざまな 3D 計測、調査、評価用途に適した柔軟なシステムです。 また、その自動化機能により、製造環境における正確な検査に適したものになっており、産業用途で信頼できる結果を提供します。

航空宇宙産業で、Phoenix V|tome|x M Neo は多様な用途に対応する、万能かつ不可欠なツールとして活躍します。 翼型、スペア部品やメンテナンスに使用するアディティブマニュファクチャリングパーツ、最先端のカーボンファイバー技術、衛星用の複雑な電子部品など、重要な部品の検査や評価で活躍します。

Phoenix V|tome|x M Neo はバッテリー検査用の強力なソリューションです。陽極と陰極の正確な測定、角型、ポーチ型、折りたたみ型、積層型などのさまざまな電池構造の故障分析を行います。 高度な機能により、バッテリー技術の信頼性と効率性を叶え、さまざまな用途で高度なパフォーマンスを発揮します。

マイクロ構造の評価、はんだ接合の検証、回路基板の検査など、Phoenix V|tome|x M Neo は製品の信頼性を高め、製造プロセスを最適化し、電子産業における研究開発の取り組みを加速させる有益なインサイトを提供します。

長きにわたるレガシー

伝統に基づいて

Phoenix V|tome|x M Neo は次世代の CT システムです。世界中で 1000 台以上設置され、広く使用されている Phoenix V|tome|x プラットフォームの成功をもとに構築されています。 画像結果の改善、大きく重いサンプルに対応する拡大されたスキャンエリア、可変的な焦点と検出器の距離、柔軟性とアクセシビリティを改善する新しいキャビネットデザインなど、すばらしい進化を遂げています。

優れた性能で進化したイメージングと分析

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革新的な技術とコンポーネント
Micro- /nanofocus Dual|tube 構成

300 kV / 500 W マイクロフォーカス X 線管 - オプションで高出力 180 kV/20 W ナノフォーカス X 線管と組み合わせて CT 用途に最適化し、小型で低密度のサンプルも最高精度でスキャンします

Long-life|filament

フィラメントの寿命が最大 10 倍になり、長期的な安定性が確保され、long-life|filament によってシステム効率が最適化 (オプション)

Scatter|correct 技術

Waygate Technologies だけの特許取得済みの Scatter|correct 技術により、コーンビーム CT のスループットより最大 100 倍速いスピードとファンビーム CT の優れた画質で放射線散乱サンプルの高精度 CT スキャンを実施できます。

Dynamic 41 デジタル検出器

200 µm ピッチ DXR 検出器と同じスピードで 2 倍の CT 解像度、または同じ画質レベルで 2 倍のスループット。 16 ビット検出器と比べて、最適化された 14 ビット技術は 10000:1 のダイナミックレンジで最高の効率性を提供し、時間を節約し、画像のノイズを減らします

Helix|CT

向上した画質でスキャンし、効率的かつ容易に検出確率 (POD) を高めます

Offset|CT

最大 70% の大きなスキャンボリュームの大型部品でもスキャン可能

Orbit|scan

仮想のスキャン回転軸で、簡単なスキャン調整と柔軟な ROI CT スキャンを実現

Multi|bhc

Multi|bhc ツールは、通常マルチマテリアルサンプルの高密度エリア間に位置する複数の暗い縞状の帯として発生するアーティファクトを修正します

ASC|filter

高吸収サンプル CT データセットのグレーの値を減らすことで、アーティファクトを大幅に削減して、当社だけの画質を提供する適応型散乱修正フィルター

High-flux|target

高速 microCT スキャンで効率性を改善、または 2 倍の解像度、小さな焦点で高出力

Sample|changer

ホルダーを簡単に取り外せるので、異なるサンプルを自動で変更できます

Filter|changer

オプションの Filter|changer と Sample|changer を組み合わせることで、混合バッチ CT スキャンを実行できます

Phoenix Datos|x CT ソフトウェア

データ取得、ボリューム処理、評価を簡単に完全自動化

CT 検査および計測サービス

Waygate Technologies 提供のグローバル工業用 X 線 2D および 3D CT スキャンサービス

Image Card Ultrasound Request A Demo
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当社にお問い合わせの上、オンサイトまたは仮想デモをご予約ください。お客様独自の用途ニーズや、当社がどのようにお客様に安心を提供できるかについてお話させていただきます。

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