Helix|CT
Helix|CT は長さのある部品を素早く、さらに良い品質でスキャンするために使用されています。 この取得テクニックにより、Feldkamp の再構成で観察されるアーティファクトを削減でき、水平面でより良い結果を取得し、ステッチングアーティファクトを防ぎます。 ヘリカルサンプル回転スキャンは、サンプルの上部および下部セクションを撮影し、より鮮明な画像を提供するので、複数の部分スキャンの結果を組み合わせて、あとで縫い合わせる必要がなくなります。
![nautilus_03_v1_with_text](/sites/bakerhughes/files/styles/max_650x650/public/2022-07/nautilus_03_v1_with_text.jpg?itok=Gux62qcY)
![helix_vs_cone_beam_ct_disc_box](/sites/bakerhughes/files/styles/max_650x650/public/2022-07/helix_vs_cone_beam_ct_disc_box.jpg?itok=yYWdLMJt)
![nautilus_helix_02_v2_with_text_0](/sites/bakerhughes/files/styles/max_650x650/public/2022-07/nautilus_helix_02_v2_with_text_0.jpg?itok=ZiF-JFfV)
Helix|CT は長さのある部品を素早く、さらに良い品質でスキャンするために使用されています。 この取得テクニックにより、Feldkamp の再構成で観察されるアーティファクトを削減でき、水平面でより良い結果を取得し、ステッチングアーティファクトを防ぎます。 ヘリカルサンプル回転スキャンは、サンプルの上部および下部セクションを撮影し、より鮮明な画像を提供するので、複数の部分スキャンの結果を組み合わせて、あとで縫い合わせる必要がなくなります。
長い部品の検査において、Feldkamp アーティファクトのない、高い独立 CT 品質を実現
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