一振動子垂直探触子

欧州モデル: プローブは、DGS によるきずサイジングに適しており、保護膜付きで、凹凸面や曲面でのカップリング性能がよく、トランスデューサーの寿命を向上します。

標準の横付きコネクタまたはオプションの上付きコネクタがあり、Lemo 1 (B..S) または Lemo 00 (MB..S )コネクタで使用します。 高温用ディレイライン

北米モデル: 探触子は、 凹凸や曲面でのカップリングを改善する膜付き保護膜の3種類で使用できます。 ウェアキャップを定期的に交換することで、探触子の寿命を向上することが可能です。

最大 200°C (400°F) の表面でのテストを可能にする十分な遅延線とともに、サイドマウントまたはトップマウントの BNC コネクタと一緒に使用します。

保護膜付きモデルに比べ高感度となります。 耐摩耗性に優れており、持ちやすいグリップ形状を備えています。また、フィンガーチップタイプは狭い場所の検査に対応可能です。

欧州モデル: コネクタは、Lemo 00 横付とマイクロドット横付 (K..KおよびG..K) があります。

北米モデル: コネクタは、BNC横付または上付。F型はマイクロドット横付

ディレイライン付き垂直探触子は、高周波により分解能と微小なきずの検出率が向上でき、近距離分解能が良好です。 ディレイラインは交換可能で、コネクタは、マイクロドットコネクタ（横付）となります。