PlanarCT Inspection
オーバーレイ構造を使用しない、高解像度スライスまたはマルチスライス検査
Waygate Technologies の PlanarCT モジュールにより、Phoenix の Microme|x および Nanome|x X 線検査システムのユーザーは、複雑なプリント回路基板アセンブリーのはんだ接合部やパッケージに対して、より優れたさらに信頼性の高い検査を実行できます。
複雑なプリント回路基板アセンブリーでも、はんだ接合およびパッケージに対してより優れた信頼性の高い検査を実施
PlanarCT スキャンの実行は、回転ステージでのサンプルの固定準備なしで簡単に調整できます。 ボードを操作テーブルに置くだけで、テーブルが回転している間に対象領域がスキャンされます。 再構築された planarCT スライスまたはマルチスライスビューにより、他のボード領域の構造をオーバーレイすることなく、対象の単一の平面またはパッケージ全体の正確な検査結果を得ることができます。 Waygate Technologies の付属の 3D|viewer では、フルボリュームの評価タスクも可能です。
PlanarCT はプリント回路基板の検査だけでなく、複合材料やアディティブマニュファクチュアリング部品などの大型フラットサンプルの ROI 検査にも最適な手段で、構造をオーバーレイすることなく、高解像度のスライスまたはマルチスライス検査を実行できます。
Product Features
Benefits
- 2D slice view provides significant better result quality compared to conventional X-ray inspection with overlaying features
- Excellent image quality and high magnification for wide defect coverage
- Slice and ROI CT volume evaluation in any direction with Waygate Technologies’ 3D|viewer
- New-designed workflow enabling less scan preparation for maximum productivity
Applications
- Available with Phoenix Microme|x and Nanome|x systems
- Upgrade option for already installed systems
製品情報
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