コンピューター X 線撮影 (CR) カセッテ
非破壊試験用に設計された CR カセッテ
Waygate Technologies (改称前は GE Inspection Technologies (GEIT)) のカセットは、非破壊試験用に特別に設計されています。 CR カセッテは軽量で、非常に簡単に使用できます。 合成素材により、総合的な耐久性で剛性が最大化されています。 工業用 X 線は放射線エネルギーが高いため、標準的な医療用カセッテは使用できません。 そのため、このカセッテは前面に 200μm (0.008 インチ) の銅製 (Cu) スクリーンを組み込んで提供することができます。また背面には常に 200μm (0.008 インチ) の銅が組み込まれているため、最適な後方散乱保護が確保され、最適な画質が得られます。
当社は以前は GE Inspection Technologies という名称でしたが、現在の名称は Waygate Technologies であり、品質、安全性、生産性の確保において 125 年以上の経験を持つ非破壊試験ソリューションのグローバルリーダーです。
