计算机放射成像 (CR) 暗盒
专为无损检测应用设计的 CR 暗盒
Waygate Technologies（前身为 GE Inspection Technologies）的成像暗盒专为无损检测应用 (NTD) 而设计。 CR暗盒重量轻，简单易用。 合成材料强度高，使得整体更为耐用。 工业 X 射线使用的辐射能量较高，因此无法使用标准的医用成像暗盒。 因此，此款成像盒可以提供 200μm (0.008") 的内置前置铜 (Cu) 屏，背面覆铜（厚度 200μm (0.008")），以确保最佳的反向散射保护，从而实现极佳的图像质量。
Waygate Technologies（前身为 GE Inspection Technologies）是无损检测解决方案的全球领导者，在确保质量、安全和生产率方面拥有超过 125 年的经验。
