Dynamic 41|100--卓越的图像质量 X 射线平板探测器
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在更短的时间内获得优质的 CT 结果
- Dynamic 41|100 是 Waygate Technologies 下一代工业 X 射线平板探测器平台的首款产品。 其检测面积约为 410×410mm²（16"×16"），像素大小为 100μm，在实现卓越图像质量的同时提供更快的检测速度。
- Waygate Technologies 基于专有的 X 射线平板探测器技术，独家向其射线照相和 CT 客户提供其首个专门为粗加工和高能量消耗工业 X 射线应用而设计和优化的 100 μm、16M 像素的平板探测器。 与传统的 GadOx 或其他基于粉末的闪烁体相比，Waygate 专有的EnduranceTM CSI 闪烁体具有更高的分辨率和亮度。
产品特点
优势
- 具有超大 16 英寸检测面积、100 µm 的像素（1600 万像素）的 X 射线平板探测器，可实现卓越的图像和结果质量，能够根据工业高能量消耗的长期可靠性进行设计和优化。
- 高分辨率图像，便于检测细微的迹象（使用微聚焦 X 射线管可检测 50 µm 的特征）。
- 新一代光电二极管设计，与最先进的 200 µm 像素检测仪相比，效率和灵敏度提高了 10 倍，可在不影响周期时间的情况下将分辨率提高 2 倍。
应用
- 可在不增加几何放大倍率的情况下检测小 2 倍的缺陷，从而能以更高的分辨率对较大物体进行成像。
- 由于平板探测器的灵敏度更高，帧率更快，成像区域更大以及其自适应成像模式，因此减少了检测时间。
独特性
- Waygate Technologies 专有的 Dynamic 41 平板探测器系列专门为其系统客户提供。
- Dynamic 41-100 平板探测器可选择用于 phoenix v-tome-x c、m 和 L CT 系统，也可根据要求用于 Seifert x-cube。