直探头 — 单晶探头

对于欧洲客户：这些探头适用于 DGS 缺陷大小测定，其可更换的保护膜可以改善不平整或曲面表面的耦合，延长探头的寿命。

可配合标配的侧装式（可选配顶装式）Lemo 1 (B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 连接器使用。 还可提供高温延迟块。

对于北美客户：这些探头可与三种类型的带保护膜型（带有一层薄膜，可改善不平整或弯曲表面的耦合）一起使用。 定期更换耐磨帽可无限期延长传感器的使用寿命。

可与侧装式或顶装式 BNC 连接器配合使用，加上成熟的延迟块，可以在高达 400°F (200°C) 的表面进行检测。

与带保护膜探头相比，这些探头具有更高的灵敏度，最适合检测金属。 它们坚固耐用，带有永久性的耐磨层，握感舒适，易于使用，还有指尖型号可供选择，以便伸入您可能经常遇到的狭窄空间。

对于欧洲客户：探头型号有侧装式 Lemo 00 连接器（K..K 和 G..K 型侧装式 Microdot）。

对于北美客户：探头型号使用 BNC 连接器（侧装式或顶装式）— F 型侧装式 Microdot。

带延迟块探头提供卓越的近表面分辨率，可用于以较高频率探头检测较小缺陷。 所有型号都配有侧装式 Microdot 连接器和可更换的延迟块，使用寿命长，用途广泛。