利用康普顿背散射技术进行无损检测

与本章节所讨论的大部分方法一样，康普顿背散射技术（见章节 2.6）
也因为在无损检测设备中引入了计算机技术而
受益。

康普顿背散射技术如今是一项公认的塑料和轻金属无损检测技术[2]。
扫描仪由 X 射线管和含多个元件的探测器组成，如
图 4-17 所示。 射线束的直径会被准直器降低至 0.5 mm，使
其无法直接照射探测器。

光子与电子在材料中碰撞时，原初 X 光射线会以稍弱的辐射朝各个方向散射，
因此一部分射线会从材料反射回
扫描仪。 接着，探测器会通过特殊形状的膜片捕捉到该二次射线
，如图 4-17 所示。

探测器由至少 20 个探测器元件组成（标示为 A’、B’、C’ 等），它们
分别测量物体
中不同深度处（A、B、C）的背散射辐射量，如图 4-17 所示。 意即每个传感器元件专门检测一个特定的深度。
该圆柱形扫描仪仅可测量
尺寸 7 x 7 cm 的物体，并按网格形式扫描
物体。
将扫描系统与数据处理器
结合使用，可以生成物体的
全方位“康普顿图像”
， 并显示物体中任何
可能的缺陷。
该方法的优势是
只需从一侧对物体进行
扫描。
因此，该方法经常
应用于蜂窝式
结构和复合材料
， 穿透深度
约 50 mm。
该方法的速度（仍然）很慢；扫描 50 cm2 大小的平面需要花费约 5 分钟的时间。
然而，该方法还具备一项额外的优势，即可以立
即通过各个独立探测器元件的“准聚焦”结果获知缺陷的深度位置。