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How do I calculate the source-to-film distance?
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How do I calculate the source-to-film distance?



線源とフィルム間の距離はどのように計算するか?

本章の前の段落では、幾何学的不鮮明さの影響と、線源とフィルム間の距離を調整することによる影響の可能性について説明しました。 このセクションでは、このことについてさらに詳しく説明します。

できるだけ鮮明な X 線写真を撮るには、最大限の詳細が見えるように不鮮明さの合計を最小に抑える必要があります。 X 線撮影用に選択された放射線のエネルギーレベルが手掛かりになることがあります。9 章を参照してください。 最終的には、X 線撮影される材料の厚さによって決まりますが、同時にフィルムの不鮮明さ Uf も関係します。これは表 1-11 または図 4-11 から抽出できます。

幾何学的不鮮明さ Ug を Uf の値よりはるかに低くキープしようとしても無駄です。その場合 Uf によって不鮮明さの合計が決まるためです。 幾何学的不鮮明 Ug を Uf の値と等しくすることが目的である場合は、必要な線源とフィルム間の距離 (F) を以下の公式から算出できます。

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F Formula

F を計算するのではなく、さまざまな基準に基づいた手順とガイドラインによりグラフが提供されているので、そこから最短距離 (Fmin) を判断できます。

図 5-11 では EN 1435 に基づくノモグラムが示されており、2 つの品質レベル (カテゴリ A と B) の最短焦点距離を抽出できます。

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Fig. 5-11. Nomogram for minimum source to film distance